2020-07-17 10:54:39
使用PhillipsPANalyticalXpertPro衍射儀（工作波長(cháng)為1.5405?）（CuKα陽(yáng)）收集電弧熔化的拋光錠的X射線(xiàn)粉末衍射（XRD）數據，而顯微照片則通過(guò)掃描電子顯微鏡（SEM）獲得），使用ZeissUltra場(chǎng)發(fā)射顯微鏡，并使用牛津儀器X-MaxEDX硅漂移檢測器進(jìn)行附加元素檢測（EDX），以檢查元素的定性成分。隨后通過(guò)軟磁合金在環(huán)境壓力...2020-07-17 10:54:39
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